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徠卡金相顯微鏡,測量投影儀

凯时首页公司提供徠卡立式金相顯微鏡、倒置金相顯微鏡、工業顯微鏡和高精度複檢係統,Baty品牌影像測量儀、測量投影儀。

能量色散型X射線熒光分析裝置

能量色散型X射線熒光分析裝置

型號:EDX-7000/8000/8100

從輕元素到重元素,全範圍輕鬆應對。與采用傳統SiLi半導體檢測器的分析裝置相比,靈敏度也更勝一籌。

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光電直讀光譜儀

光電直讀光譜儀

型號:PDA-5000

鋼鐵鑄造行業金屬材料分析專家

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徠卡Leica倒置金相顯微鏡

徠卡Leica倒置金相顯微鏡

型號:DM ILM

徠卡Leica倒置金相顯微鏡可以快捷並出色地完成所有的常規工業日常觀察和測量任務。

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徠卡 DMi8工業顯微鏡

徠卡 DMi8工業顯微鏡

型號:DMi8

徠卡 DMi8工業顯微鏡它將徠卡優異的光學品質、豐富的對比度模式以及直觀易用的軟件集於一身,有助於加速您的工作流程。

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徠卡金相顯微鏡

徠卡金相顯微鏡

型號:DM2700 M

徠卡DM2700 M金相顯微鏡是金相學、地球科學、法醫檢查以及材料質控方麵的理想儀器。

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徠卡Leica DM12000M高精度複檢係統

徠卡Leica DM12000M高精度複檢係統

型號:DM12000M

徠卡Leica DM12000M高精度複檢係統是用於12”精密觀察的高精度複檢係統

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徠卡Leica立式金相顯微鏡

徠卡Leica立式金相顯微鏡

型號:徠卡Leica DM4 M & DM6 M

徠卡Leica DM4 M & DM6 M立式金相顯微鏡可在任何顯微鏡設置下以恒定的色彩溫度查看您的樣品:無需每次亮度改變時都重置攝像頭或調節白平衡。

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DCM8光學表麵測量係統

DCM8光學表麵測量係統

型號:DCM8

徠卡Leica DCM8光學表麵測量係統融合了高清晰度共聚焦顯微鏡和幹涉測量技術優點。

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